Durômetro ZHN/SEM

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Descrição

O nano-indentador ZHN/SEM para instalação em um microscópio eletrônico de varredura (SEM) permite a execução de experimentos micro-mecânicos com observação simultânea da amostra com máxima resolução. Ele oferece a maior faixa de medição disponível atualmente com a medição de deslocamento máximo de 200 μm e a força máxima de 200 mN e ao mesmo tempo ruído muito baixo dos sensores de força e de deslocamento em um ambiente de baixa vibração. Sua rigidez de equipamento é tão elevada que medições de dureza convencionais podem ser realizadas sem problemas. O sistema padrão foi desenvolvido para a instalação no sistema de mesa de diferentes SEMs, mas ele também pode ser montado na parede da câmara. Dessa forma é possível continuar a aproveitar as opções de basculamento e de deslocamento existentes da mesa SEM. pelo cabeçote de medição com sensores e atuador por um sistema de mesa piezoelétrico para deslocamento de amostras no sentido XY e rotação opcional ao redor do eixo do indentador por uma mesa Z mecânica e rigida para deslocamento do cabeçote de medição no sentido da amostra PC e controlador software de fácil utilização e muito flexível um ou dois flanges com passagens (SEM específico)

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JEC WORLD
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    K-Messe	2025
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    8-15 out 2025 Düsseldorf (Alemanha)

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    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.