Profilômetro óptico ZeGage™ Pro
3Dcom interferometria de luz brancainterferométrico

Profilômetro óptico - ZeGage™ Pro - Zygo - 3D / com interferometria de luz branca / interferométrico
Profilômetro óptico - ZeGage™ Pro - Zygo - 3D / com interferometria de luz branca / interferométrico
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Características

Tecnologia
óptico, 3D, com interferometria de luz branca
Função
para medição de rugosidade, para medição de planeza
Aplicações
para linha de produção
Especificações
industrial, de laboratório
Configuração
de bancada
Outras características
sem contato, não-destrutivo

Descrição

Sistema de Profiler Óptico 3D Pronto para Produção ZeGage Pro HR 3D Optical Profiler Os profilers ópticos ZeGage™ Pro e ZeGage™ Pro HR 3D fornecem medição sem contacto e caracterização de características de micro e nano-escala de muitos tipos de superfícies, assegurando o controlo de qualidade e monitorização do processo no seu ambiente de fabrico. A nossa série ZeGage Pro, líder na indústria, estabelece o padrão de desempenho, facilidade de utilização, flexibilidade, e precisão de perfis de superfície industriais sem contacto de bancada de classe industrial. Construído com base na tecnologia CSI exclusiva da ZYGO, o ZeGage Pro fornece tecnologias inovadoras para permitir uma metrologia de superfície precisa, fiável, simples e confiante. As capacidades exclusivas incluem SureScan™ tecnologia para metrologia robusta por vibração, Part Finder, e Smart Setup para uma configuração simplificada da peça e medições optimizadas. Nunca foi tão simples medir uma grande variedade de superfícies e peças, rápida e facilmente. Leia mais para ver como o poder, versatilidade, e valor dos sistemas ZeGage™ Pro podem beneficiar-lhe. - A tecnologia proprietária de medição sem contacto é melhorada com a tecnologia SureScan™ para baixa sensibilidade à vibração e fácil colocação em qualquer lugar dentro das suas instalações. - A metrologia de superfície quantitativa com precisão a nível nanométrico proporciona uma capacidade de medição superior. - O sensor de imagem de alta resolução de 1,9 milhões de píxeis proporciona medições areais rápidas em segundos, para excelente detalhe e visualização da superfície. - Sequências de medição totalmente automatizadas e costura de campo permitem uma inspecção de alta resolução de grandes áreas. (Requer fase opcional de peça motorizada)

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SPIE Photonics West 2025
SPIE Photonics West 2025

25-30 jan 2025 San Francisco (EUA - Califórnia)

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