Espectrômetros HELMUT FISCHER

... A série Fischeroscope® X-ray Xul® foi concebida com um espectrómetro de fluorescência de raios X compacto, utilizado para realizar medições de espessura e análises de material. Destina-se a ser utilizado em indústrias ...

... O XAN 220, fabricado pela Fischer, é um instrumento de medição de fluorescência de raios X para análise rápida e não destrutiva de ligas de ouro e prata. Ele pode fornecer resultados comparáveis como cupelação sem destruir a amostra. ...

... A fluorescência de raios-X é um instrumento de medição utilizado para a medição da espessura do revestimento manual ou automático de revestimentos funcionais, da corrosão, dos revestimentos de segurança e das peças produzidas a granel. ...

Portátil, bancada, em linha: o equipamento de fluorescência de raios-X XAN®500 da Fischer é ainda mais versátil. Pode ser usado como um dispositivo portátil, como uma unidade de bancada ou integrado directamente nas linhas de produção. ...

• Análise de banhos galvânicos e medição de espessura de revestimento com fluorescência de raios X de acordo com DIN ISO 3497 e ASTM B 568 • Menor ponto de medição com o XULM aprox. 0,1 mm; menor ponto de medição com o XUL aprox. 0,5 ...

... perfeitamente adequados para medir revestimentos galvânicos em peças produzidas em massa, como porcas e parafusos. Todos os espectrômetros de Raio-X da série XUL / XULM são fáceis e intuitivos de operar. Amostras maiores ...

• Espectrômetros universais de fluorescência de raios-X para análise de metais e metais preciosos, medição de espessura de revestimento e triagem RoHS de acordo com DIN ISO 3497 e ASTM B 568 • Detectores de semicondutores ...

• Teste de ouro não destrutivo, rápido e preciso • Câmara de medição espaçosa • Design compacto e robusto, destinado a uso de longo prazo • Nenhuma preparação de amostra necessária. Basta colocar o item na janela de medição na câmara ...

... Análise, determinação do valor e controlo da autenticidade. Robusto aparelho de bancada XRF optimizado para a análise mais potente, rápida e não destrutiva de jóias, moedas e metais preciosos, também adequado para peças maiores. Análise ...

... Determinação de películas finas, oligoelementos e ligas. Instrumento universal para medição em estruturas mais pequenas, revestimentos multicamadas muito finos, revestimentos funcionais e revestimentos muito finos ≤ 0,1 µm. Desempenho ...

• Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer for automated material analysis and non-destructive measurement of coating thickness according to ISO 3497 and ASTM B 568 • Smallest measuring spot XDLM: approx. 0.1 mm; smallest measuring ...

... circuit boards • Video camera for easy fixing of the measurement location • Certified full-protection devices Os espectrômetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® e XDLM® estão intimamente relacionados à série XUL . Todos ...

... detector de desvio de silício (SDD) de alta qualidade oferece melhor resolução de energia do que o diodo PIN de silício. Os espectrômetros XDAL assim equipados são usados ​​para resolver tarefas de medição complexas na ...

• Equipamento de Raio-X universal premium para medições automáticas de revestimentos muito finos (< 0,05 μm) e para análise de material fino na gama sub por mil, de acordo com a ISO 3497 e ASTM B 568 • Tubo de microfoco com ânodo de ...