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... 1. Avaliação do contorno da superfície: Pode avaliar raio, ângulo, distância, coordenadas, círculo, secção transversal circular, e determinar os pontos, cada ponto intersectante, eixo de coordenadas, linha recta, linha vertical, círculo ...
Chotest Technology Inc.
... A série SJ5720-OPT é capaz de medir a rugosidade e o perfil da superfície após um único varrimento. Além disso, existe um módulo de software dedicado à medição e análise de grandes superfícies asféricas, pelo que esta série é uma solução ...
Chotest Technology Inc.
... SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer é um instrumento ideal para a medição sub-nanométrica de várias peças de precisão. Baseado no princípio da tecnologia de interferência de luz branca, combinado com o módulo de digitalização ...
Chotest Technology Inc.
... SuperView W3 Optical 3D Surface profilometer é um instrumento ideal para a medição sub-nanométrica de várias peças de precisão. Baseado no princípio da tecnologia de interferência de luz branca, combinado com o módulo de digitalização ...
Chotest Technology Inc.
... Profilómetros ópticos de superfície Nano 3D SuperView W1 Modelo No.: SuperView W1/W1-Pro Nome do produto: Profilómetros ópticos de superfície Nano 3D Campo de visão padrão: (0,98*0,98)mm Campo de visão ...
Chotest Technology Inc.
... 1. Uma vez Procura de parâmetros de Perfil e Rugosidade, tais como Ra e Pt 2. Rugosidade da superfície: Parâmetro R, parâmetro P, parâmetro W, etc. 3. Avaliação do perfil de superfície: Pode avaliar raio, ângulo, distância, coordenadas, ...
Chotest Technology Inc.
... O instrumento de medição de contorno de varrimento bidirecional SJ5780-200 é um instrumento de medição de contorno abrangente de varrimento ativo de grande alcance e alta precisão. O instrumento de eixo X, eixo Z com sistema de movimento ...
Chotest Technology Inc.
... O instrumento de medição de contorno de varrimento bidirecional SJ5780-300 é um instrumento de medição de contorno abrangente de varrimento ativo de grande alcance e alta precisão. O instrumento de eixo X, eixo Z com sistema de movimento ...
Chotest Technology Inc.
... O instrumento de medição de contorno de varrimento bidirecional SJ5780-400 é um instrumento de medição de contorno abrangente de varrimento ativo de grande alcance e alta precisão. O instrumento de eixo X, eixo Z com sistema de movimento ...
Chotest Technology Inc.
... SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer é um instrumento ideal para a medição sub-nanométrica de várias peças de precisão. Baseado no princípio da tecnologia de interferência de luz branca, combinado com o módulo de digitalização ...
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