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... e análise de grandes superfícies asféricas, pelo que esta série é uma solução de medição ideal para a indústria de lentes ópticas. Também pode ser utilizado para a medição do perfil e da rugosidade de grandes superfícies ...
Chotest Technology Inc.
... superfície do objecto é obtida após o software XtremeVision processar e analisar a imagem 3D. O SuperView W1 é um instrumento óptico de precisão de fácil utilização com poderosas funções de análise para todos os tipos ...
Chotest Technology Inc.
... superfície do objecto é obtida após o software XtremeVision processar e analisar a imagem 3D. O SuperView W3 é um instrumento óptico de precisão de fácil utilização com poderosas funções de análise para todos os tipos ...
Chotest Technology Inc.
... Profilómetros ópticos de superfície Nano 3D SuperView W1 Modelo No.: SuperView W1/W1-Pro Nome do produto: Profilómetros ópticos de superfície Nano 3D Campo de visão ...
Chotest Technology Inc.
... superfície do objecto é obtida após o software XtremeVision processar e analisar a imagem 3D. O SuperView W1 é um instrumento óptico de precisão de fácil utilização com poderosas funções de análise para todos os tipos ...
Chotest Technology Inc.
... e análise de grandes superfícies asféricas, pelo que esta série é uma solução de medição ideal para a indústria de lentes ópticas. Também pode ser utilizado para a medição do perfil e da rugosidade de grandes superfícies ...
Chotest Technology Inc.
... Modelo No.: SuperView W1-Ultra Nome do produto: Profilómetros ópticos de superfície Nano 3D Campo de visão padrão: (0,98*0,98)mm Campo de visão máximo: (6x6)mm Refletividade do objeto de teste: 0,5 % ...
Chotest Technology Inc.
... Modelo No.: SuperView W1-Lite Nome do produto: Profilómetros ópticos de superfície Nano 3D Campo de visão padrão: (0.98*0.98)mm Campo de visão máximo: (6x6)mm Refletividade do objeto de teste: 0.05 % ...
Chotest Technology Inc.
... O microscópio confocal VT6300 é dedicado à medição a nível micro-nano de vários componentes de precisão e superfícies de materiais. Pode medir a superfície de vários objectos, desde lisos a rugosos, de baixa refletividade a alta refletividade, ...
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